Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2007

    1. In situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Ge-rich Si/SiGe multilayers using x-ray scattering
      MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Günther BAUER, Václav HOLÝ, Claudiu FALUB, Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER. In situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Ge-rich Si/SiGe multilayers using x-ray scattering. Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2007, roč. 22, č. 4, s. 447–453. ISSN 0268-1242.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/720785/cs
    2. X-ray reflectometry and diffuse scattering
      MIKULÍK, Petr. X-ray reflectometry and diffuse scattering. 2007. vyd. Smolenice (Slovensko): 7th Autumn School on X-ray scattering from surfaces and thin layers, 2007. international workshop.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/753380/cs

    2005

    1. High Temperature in-situ Investigation of Si/SiGe Multilayers and Cascade Structures
      MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Claudiu FALUB, Günther BAUER a Detlev GRÜTZMACHER. High Temperature in-situ Investigation of Si/SiGe Multilayers and Cascade Structures. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Praha, 2005, roč. 12, č. 2, s. 126. ISSN 1211-5894.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/710337/cs

    2004

    1. Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers
      MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Václav HOLÝ, Günther BAUER, Claudiu FALUB, Soichiro TSUJINO, Elisabeth MÜLLER, Detlev GRÜTZMACHER, Yves CAMPIDELLI, Olivier KERMARREC a Daniel BENSAHEL. Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers. Zeitschrift fur Kristalographie. R. Oldenbourg Verlag GmbH, 2004, roč. 219, č. 4, s. 195-200. ISSN 0044-2968.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/566677/cs

    2001

    1. Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings
      MIKULÍK, Petr, M. JERGEL, T. BAUMBACH, E. MAJKOVÁ, E. PINČÍK, Š. LUBY, L. ORTEGA, R. TUCOULOU, P. HUDEK a I. KOSTIČ. Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A188, 5 s. ISSN 0022-3727.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/362931/cs
    2. X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires
      ULYANENKOV, A., K. INABA, Petr MIKULÍK, N. DAROWSKI, K. OMOTE, J. GRENZER a A. FORCHEL. X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A179, 4 s. ISSN 0022-3727.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/362932/cs
    3. X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer grating
      JERGEL, M., C. FALCONY, Petr MIKULÍK, L. ORTEGA, E. MAJKOVÁ, E. PINČÍK, Š. LUBY, I. KOSTIČ a P. HUDEK. X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer grating. Superficies y Vacío. Mexico: Sociedad Mexicana de Ciencia de Superfic, 2001, roč. 2001, č. 13, s. 10-14. ISSN 1665-3521.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/407469/cs
Zobrazit podrobně
Zobrazeno: 20. 7. 2024 02:31