Výpis publikací

BANERJEE, Rupak, Jiří NOVÁK, Christian FRANK, Maria GIRLEANU, Olivier ERSEN, Martin BRINKMANN, Falk ANGER, Christian LORCH, Johannes DIETERLE, Alexander GERLACH, Jakub DRNEC, Sun YU a Frank SCHREIBER. Structure and Morphology of Organic Semiconductor-Nanoparticle Hybrids Prepared by Soft Deposition. JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C. Washington D.C.: American Chemical Society, 2015, roč. 119, č. 9, s. 5225-5237. ISSN 1932-7447. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b00480.

ZEMEK, Josef, Kamil OLEJNÍK a Petr KLAPETEK. Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces. Surface science. Amsterdam: Elsevier, 2008, roč. 602, č. 7, s. 1440-1446. ISSN 0039-6028.

CABÁLKOVÁ, Jana, Jan PŘIBYL, Petr SKLÁDAL, Pavel KULICH a Josef CHMELÍK. Size, shape and surface morphology of starch granules from Norway spruce needles revealed by transmission electron microscopy and atomic force microscopy: effects of elevated CO2 concentration. Tree Physiology. Victoria, Kanada: Heron Publishing, 2008, roč. 28, č. 10, s. 1593-1599. ISSN 0829-318X.

DUŠEK, Jiří, Vilma BURŠÍKOVÁ, Vladislav NAVRÁTIL, Jiří BURŠÍK, Olga BLÁHOVÁ a Petr KLAPETEK. Comparative study on several micro and nanoindentation techniques including AFM. In NANO ´06. Brno: University of Technology, Faculty of Mechanical Engineering and COMTES FHT, Ltd., Plzeň, 2007, s. 30-30. ISBN 80-214-3331-0.

BURŠÍKOVÁ, Vilma, Olga BLÁHOVÁ, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Marek ELIÁŠ, Ondřej JAŠEK, Monika KARÁSKOVÁ, A. BOUSQUET, Jiří BURŠÍK a Petr KLAPETEK. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials. In LMV 2006 Možnosti aplikace výsledků měření. Plzeň: Západočeská univerzita v Plzni, 2007, s. 36-43. ISBN 80-7043-512-7.

FOJT, Lukáš, Luděk STRAŠÁK a Vladimír VETTERL. 50 Hz magnetic field effect on the morphology of bacteria. In BES 2007 Toulouse, Book of Abstracts. Toulouse: The Bioelectrochemical Society, 2007, s. 150.

SŤAHEL, Pavel, Vilma BURŠÍKOVÁ, Antonín BRABLEC, Zdeněk NAVRÁTIL, Martin ŠÍRA a Jan JANČA. Application of Surface Barrier Discharge for deposition of Protective Coatings and Plasma Activation of Surfaces. In 7th International Balkan Workshop on Applied Physics - Abstracts. 1. vyd. Constanta, Romania: Ovidius University, 2006, s. 102-102. ISBN 978-973-614-314-4.

FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Růžena NEPUSTILOVÁ a Svatopluk BAJER. Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2006, roč. 38, č. 4, s. 842-846. ISSN 0142-2421.

BURŠÍKOVÁ, Vilma. The instrumented indentation test - powerful tool in development of new materials. In Lokální mechanické vlastnosti 2006. 2006.

VALTR, Miroslav, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. AFM Study of Hydrocarbon Thin Films. In WDS'05 Proceedings of Contributed Papers: Part II - Physics of Plasmas and Ionized Media (ed. J. Safrankova). Praha: Matfyzpress, 2005, s. 391-396. ISBN 80-86732-59-2.

KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Application of the wavelet transformation in AFM data analysis. Acta Physica Slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2005, roč. 55, č. 3, s. 295-303. ISSN 0323-0465.

KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces. In Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range. Weinheim 2005: Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA, 2005, s. 452-462. ISBN 3-527-40502-X.

KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL, Alberto MONTAIGNE RAMIL, Alberta BONNANNI a Helmut SITTER. Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD. Vacuum. USA: ELSEVIER (PERGAMON), 2005, roč. 80, 1-3, s. 53-57. ISSN 0042-207X.

OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems. Acta physica slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2005, roč. 55, č. 3, s. 271-294. ISSN 0323-0465.

OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly. In Kvalita a GPS 2005. Brno: Subkomise metrologie při TNK 7, 2005, s. 131-139. ISBN 80-214-3033-8.

BURŠÍKOVÁ, Vilma, Petr KLAPETEK, Angelique BOUSQUET a Marek ELIÁŠ. Study of the mechanical properties of thin films using combined nanoindentation and AFM measurements. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 2005, roč. 50, 11_12, s. 323-326. ISSN 0447-6441.

FIKAR, Jan, Christophe COUPEAU, Tomáš KRUML a Joel BONNEVILLE. Experimental study of Ni3Al slip traces by atomic force microscopy: an evidence of mobile dislocation exhaustion. Materials Science and Engineering A. Netherland, 2004, roč. 387-389, č. 1, s. 926-930. ISSN 0921-5093.

KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.

OHLÍDAL, Ivan, Petr KLAPETEK a Daniel FRANTA. Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 97-100. ISSN 0009-0700.

ŠILER, Martin, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 124-127. ISSN 0009-0700.

KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 47, 6-7s, s. 79-81. ISSN 0009-0700.

KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL, Daniel FRANTA a Pavel POKORNÝ. Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2002, roč. 34, č. 1, s. 559-564. ISSN 0142-2421.

FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK a Pavel POKORNÝ. Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2002, roč. 34, č. 1, s. 759-762. ISSN 0142-2421.

FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Pavel POKORNÝ a Miloslav OHLÍDAL. Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2001, roč. 32, č. 1, s. 91-94. ISSN 0142-2421.

BURŠÍKOVÁ, Vilma a Vladislav NAVRÁTIL. Determination of Mechanical Properties of Thin Films by the Indentation Techniques. In New Trends in Physics. I. Brno: VUT Brno, Fakulta Elektrotechniky a Informatiky, 2001, s. 333-338. ISBN 80-214-1992-X.

KLAPETEK, Petr, Daniel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy. In Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Braunschweig: Physikalisch-Technische Bundesanstalt, 2001, s. 107-117. ISBN 3-89701-840-3.

MEDUŇA, Mojmír, Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA, Julian STANGL, Gunter BAUER, Jian-hong ZHU a Karl BRUNNER. RTG reflexe laterálních struktur SiGe. In 13. konference slovenských a českých fyzikov. Zvolen: Slovenská fyzikálna spoločnosť, 2000, s. 237-239. ISBN 80-228-0876-8.