KLANG, Pavel,
Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA,
Richard ŠTOUDEK a Jan ŠIK. X-ray diffuse scattering from defects in nitrogen-doped Czochralski grown silicon wafers.
J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2005, roč. 2005, č. 38, s. A105-A110, 6 s. ISSN 0022-3727.