Masarykova univerzita
Výpis publikací
česky
|
in English
Filtrování publikací
Omezující kritéria
Určeno pro RIV:
ano
ne
Rok uplatnění publikace:
2004
Zrušit všechna omezení
Zvoleným kritériím neodpovídá žádná publikace.
2004
Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation
KLAPETEK, Petr,
Ivan OHLÍDAL
a
Karel NAVRÁTIL
. Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation.
Microchimica Acta
. Wien: Springer-Verlag, 2004, roč. 147, č. 3, s. 175-180. ISSN 0026-3672.
Podrobněji:
https://is.muni.cz/publication/562896/cs
Zobrazit podrobně
Zobrazeno:
18. 10. 2024 21:00