Výpis publikací

2005

1. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly

   OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly. In Kvalita a GPS 2005. Brno: Subkomise metrologie při TNK 7, 2005, s. 131-139. ISBN 80-214-3033-8.

   URL

   Název anglicky: Measurement of nanoroughness using optical methods and atomic force microscopy
   RIV/00216224:14310/05:00013550 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. čeština. Česká republika.
   Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika)
   Klíčová slova anglicky: Drsnost; AFM; Elipsometrie; Odrazivost
   Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 2. 3. 2006 14:42.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630447/cs