Výpis publikací

2005

1. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly

   OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly. In Kvalita a GPS 2005. Brno: Subkomise metrologie při TNK 7, 2005, s. 131-139. ISBN 80-214-3033-8.

   Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630447/cs