Životopis

Identifikace osoby

• Miroslav Valtr
  narozen 9. listopadu 1979 v Brně, Česká republika
  ženatý, 3 děti

Pracoviště

• Český metrologický institut
  odd. Nanometrologie
  Okružní 31
  638 00 Brno
  Česká republika

Funkce na pracovišti

• metrolog

Vzdělání a akademická kvalifikace

• 30. 9. 2010: titul Ph.D. v oboru Fyzika plazmatu
• 2003 - 2010: Masarykova Univerzita v Brně, Přírodovědecká fakulta, Ph.D. student, téma dizertační práce: Depozice uhlíkových vrstev v plazmatu a jejich charakterizace
• 13. 6. 2003: titul Mgr. v oboru Odborná fyzika
• 1998 - 2003: Masarykova Univerzita v Brně, Přírodovědecká fakulta, téma diplomové práce: Plazmová depozice tenkých DLC:SiOx vrstev a jejich charakterizace
• 1991 - 1998: Gymnázium, Mikulov
• 1986 - 1991: ZŠ Mikulov

Přehled zaměstnání

• od 2. 1. 2007: Český metrologický institut, metrolog na oddělení nanometrologie
• 1. 1. 2006 - 31. 12. 2006: Katedra fyzikální elektroniky, Přírodovědecká fakulta Masarykovy Univerzity, odborný pracovník
• léto 2002: TESLA SEZAM Rožnov p.R., operátor na oddělení hrotového měření polovodičových součástek

Vědeckovýzkumná činnost

• 2007 - nyní: výzkum a vývoj v oblasti rastrovací mikroskopie, ResearcherID: E-3342-2012, ORCID: 0000-0002-7628-9184
• 2004 - 2006: PECVD depozice uhlíkových tenkých vrstev, elipsometrická měření, měření reflektance, pod vedením prof. Ivana Ohlídala, DrSc., Ústav fyzikální elektroniky, Masarykova univerzita
• 2002 - 2003: PECVD depozice a charakterizace DLC vrstev pod vedením Mgr. Lenky Zajíčkové, Ph.D., Ústav fyzikální elektroniky, Masarykova univerzita, spoluřešitel grantu FRVŠ 0601/2003
• 2001: studium povrchové energie polymerních tenkých vrstev deponovaných metodou PECVD pomocí měření kontaktního úhlu ve skupině prof. Klause Wiesemanna na Ruhrské univerzitě v Bochumi
• 2000 - 2001: výzkum v rámci grantu FRVŠ 0610/2001 , pod vedením Mgr. Lenky Zajíčkové, Ph.D., Plazmochemická laboratoř, Masarykova univerzita

Akademické stáže

• 10/2001 - 12/2001: Katedra fyziky plazmatu, Ruhrská univerzita Bochum, Německo (skupina prof. Klause Wiesemanna)

Účast na grantech

• Spoluřešitel grantu 9B22001: Operando metrology for energy storage materials
• Spoluřešitel grantu 8B21001: Pushing boundaries of nano-dimensional metrology by light
• Spoluřešitel grantu 8B18001: Light-matter interplay for optical metrology beyond the classical spatial resolution limits
• Spoluřešitel grantu 8B15001: Advanced 3D chemical metrology for innovative technologies
• Spoluřešitel grantu 7AX15002: Traceable characterisation of thin-film materials for energy applications
• Spoluřešitel grantu 7AX13032: Crystalline surfaces, self assembled structures, and nano-origami as length standards in (nano)metrology
• Spoluřešitel grantu 7AX13018: Novel electronic devices based on control of strain at the nanoscale
• Spoluřešitel grantu 7AX13004: Traceable characterisation of nanostructured devices
• Řešitel grantu FRVŠ: Studium vlastností uhlíkových polymerních vrstev připravovaných v pulzních vysokofrekvenčních doutnavých výbojích, č.j. fondu 2181/2005
• Spoluřešitel grantu FRVŠ: Studium procesů a produktů plazmochemických reakcí, č.j. fondu 0601/2003

Vybrané publikace

• VALTR, Miroslav, Petr KLAPETEK, Jan MARTINEK, Ondrej NOVOTNY, Zdenek JELINEK, Vaclav HORTVIK a David NECAS. Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support. HardwareX. AMSTERDAM: Elsevier, 2023, roč. 15, 11 s. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.ohx.2023.e00451. info
• NECAS, David, Miroslav VALTR a Petr KLAPETEK. How levelling and scan line corrections ruin roughness measurement and how to prevent it. Nature Scientific Reports. BERLIN: NATURE PORTFOLIO, 2020, roč. 10, č. 1, 15 s. ISSN 2045-2322. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1038/s41598-020-72171-8. info
• MARTINEK, Jan, Miroslav VALTR, Vaclav HORTVIK, Petr GROLICH, Danick BRIAND, Marjan SHAKER a Petr KLAPETEK. Large area scanning thermal microscopy and infrared imaging system. MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. BRISTOL: IOP PUBLISHING LTD, 2019, roč. 30, č. 3, 12 s. ISSN 0957-0233. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/aafa96. info
• KLAPETEK, Petr, Andrew YACOOT, Petr GROLICH, Miroslav VALTR a David NEČAS. Gwyscan: a library to support non-equidistant Scanning Probe Microscope measurements. Measurement Science and Technology. Bristol: IOP Pub., 2017, roč. 28, č. 3, s. nestránkováno, 11 s. ISSN 0957-0233. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/28/3/034015. Plný text u vydavatele info
• KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, David NEČAS, Ota SALYK a Petr DZIK. Atomic force microscopy analysis of nanoparticles in non-ideal conditions. Nanoscale Research Letter. New York: Springer, 2011, roč. 6, č. 1, s. "nestránkováno", 9 s. ISSN 1931-7573. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-6-514. info
• KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR a Martin MATULA. A long-range scanning probe microscope for automotive reflector optical quality inspection. MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. BRISTOL: IOP PUBLISHING LTD, 2011, roč. 22, č. 9, 7 s. ISSN 0957-0233. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/9/094011. info
• KLAPETEK, Petr, Miroslav VALTR, Aleš PORUBA, David NEČAS a Miloslav OHLÍDAL. Rough surface scattering simulations using graphics cards. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2010, roč. 2010, č. 256, s. 5640-5643. ISSN 0169-4332. info
• KLAPETEK, Petr a Miroslav VALTR. Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units. Surface and Interface Analysis. 2010, roč. 42/2010, č. 6, 5 s. ISSN 1096-9918. info
• MAN, Jiří, Miroslav VALTR, Anja WEIDNER, Martin PETRENEC, Karel OBRTLÍK a Jaroslav POLÁK. AFM study of surface relief evolution in 316L steel fatigued at low and high temperatures. FATIGUE 2010. 2010, roč. 2010, č. 1, s. 1625-1633. ISSN 1877-7058. info
• VALTR, Miroslav, Petr KLAPETEK, Vilma BURŠÍKOVÁ, Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge. Chem. listy. Praha: Česká společnost chemická, 2008, roč. 102, č. 16, s. 1529-1532. ISSN 0009-2770. URL info
• VALTR, Miroslav, Petr KLAPETEK, Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. UV light enhanced oxidation of a-C:H thin film in air: A study of thickness reduction. Optoelectronics and Advanced Materials - Rapid Communications. Bucharest: INOE & INFM, 2007, roč. 1, č. 11, s. 620-624. ISSN 1842-6573. URL info
• VALTR, Miroslav, Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Optical characterization of carbon films prepared by PECVD using ellipsometry and reflectometry. Czech. J. Phys. Praha: Institute of Physics Academy of Sciences, 2006, roč. 56/2006, Suppl. B, s. 1103 - 1109. ISSN 0011-4626. info

22. 3. 2024