Životopis
- Identifikace osoby
- Mgr. Daniel Franta, Ph.D., narozen 14.2.1970
- Pracoviště
- PřF MU, Ústav fyzikální elektroniky
Kotlářská 2, 611 37 Brno
- Funkce na pracovišti
-
- Vzdělání a akademická kvalifikace
- 2000: Ph.D. v oboru Vlnová a částicová optika na Masarykově univerzitě, téma "Interakce světla s neideáními vrstevnatými systémy"
-
1994: Mgr. v oboru Odborná fyzika na Masarykově univerzitě,
téma "Rozptyl světla vrstevnatými systémy s náhodně drsnými rozhraními"
- Přehled zaměstnání
- od roku 1997: Masarykova univerzita, vědecký pracovník
- Akademické stáže
- 2008: Institut des Materiaux Jean Rouxel, Univesity of Nantes, France (7 dní)
-
2003: Institute of Semiconductor Physics, Johannes Kepler University, Linz, Austria (10 dní)
-
2002: Laboratoire de Magnétisme et d'Optique, Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines, Versailles, France (3 měsíce)
-
2002: Institute of Semiconductor Physics, Johannes Kepler University, Linz, Austria (10 dní)
-
2001: Institute of Semiconductor Physics, Johannes Kepler University, Linz, Austria (2 krát 10 dní)
-
2000: Institute of Semiconductor Physics, Johannes Kepler University, Linz, Austria (10 dní)
- Vybrané publikace
- FRANTA, Daniel, David NEČAS, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Ivan OHLÍDAL, Jiří STUCHLÍK a Dagmar CHVOSTOVA. Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon. Thin Solid Films. Lausanne: Elsevier Science, 2013, roč. 539, Jul, s. 233-244. ISSN 0040-6090. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.04.012. URL info
- FRANTA, Daniel, David NEČAS, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Ivan OHLÍDAL a Jiří STUCHLÍK. Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films. Thin Solid Films. Lausanne: Elsevier Science, 2013, roč. 541, Aug, s. 12-16. ISSN 0040-6090. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.04.129. URL info
8. 3. 2014