Výpis publikací

MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Günther BAUER, Václav HOLÝ, Claudiu FALUB, Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER. Interdiffusion in SiGe alloys studied by x-rays. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Praha, 2007, roč. 14, č. 2, s. 122-123. ISSN 1211-5894.

MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Václav HOLÝ, Günther BAUER, Claudiu FALUB, Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER. In-situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Si cascade structures. Synchrotron Radiation in Natural Sciences. Warsaw: Polish Synchrotron Radiation Society, 2006, roč. 5, 1-2, s. 76. ISSN 1644-7190.

MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Václav HOLÝ, Claudiu FALUB, Günther BAUER a Detlev GRÜTZMACHER. IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SI CASCADE STRUCTURES. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Praha, 2006, roč. 13, č. 3, s. 161. ISSN 1211-5894.

MEDUŇA, Mojmír, Jiří NOVÁK, Claudiu FALUB, Gang CHEN, Günther BAUER, Soichiro TSUJINO, Detlev GRÜTZMACHER, Elisabeth MÜLLER, Yves CAMPIDELLI, Olivier KERMARREC, Daniel BENSAHEL a Norbert SCHELL. High temperature investigations of Si/SiGe based cascade structures using x-ray scattering methods. J. Phys. D: Appl. Phys. Bristol, UK: IOP Publishing, Ltd., 2005, roč. 38, 10A, s. A121-A125, 5 s. ISSN 0022-3727.

MEDUŇA, Mojmír, Václav HOLÝ, Josef KUBĚNA, Julian STANGL, Gunter BAUER, Jian-hong ZHU a Karl BRUNNER. RTG reflexe laterálních struktur SiGe. In 13. konference slovenských a českých fyzikov. Zvolen: Slovenská fyzikálna spoločnosť, 2000, s. 237-239. ISBN 80-228-0876-8.

ZHUANG, Y., Václav HOLÝ, J. STANGL, A.A. DARHUBER, Petr MIKULÍK, S. ZERLAUTH, F. SCHÄFFLER, G. BAUER, N. DAROWSKI, D. LÜBBERT a U. PIETSCH. Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 1999, roč. 32, č. 9999, s. A224, 6 s. ISSN 0022-3727.

ZHUANG, Y., J. STANGL, A.A. DARHUBER, G. BAUER, Petr MIKULÍK, Václav HOLÝ, N, DAROWSKI a U. PIETSCH. X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots. Journal of Materials Science: Materials in Electronics. Great Britain: Kluwer Academic Publishers, 1999, (10)1999, -, s. 215-221. ISSN 0957-4522.