2009
Microhardness of Some Thin Solid Films
NAVRÁTIL, Vladislav a Jiřina NOVOTNÁZákladní údaje
Originální název
Microhardness of Some Thin Solid Films
Název česky
Mikrotvrdost tenkých vrstev
Autoři
NAVRÁTIL, Vladislav a Jiřina NOVOTNÁ
Vydání
Modern Mathematical Methods in Engineering. 2009
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Prezentace na konferencích
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka
Pedagogická fakulta
Klíčová slova česky
Tenké vrstvy; mikrotvrdost; matematické modely
Klíčová slova anglicky
Thin solid films; microhardness; mathematical models
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 23. 5. 2013 15:37, prof. RNDr. Vladislav Navrátil, CSc.
V originále
The microhardness of various thin solid films was measured bz using a method based on the calculation of the relative contribution of substrate and coating to the composite microhardness value measured for hard coatings on softer substrate. The results obtained confirm the application of the method used and allow to give some conclusions concerning the influence of the technological process on the mechanical properties of thin solid films.
Česky
V práci uvádíme výsledky měření mikrotvrdosti několika druhů tenkých vrstev, deponovaných na různých substrátech. Výsledky byly zpracovány ve světle stávajících modelů, umožňujících oddělit vliv podložky na celkovou složenou tvrdost systému podložka - vrstva. Pro systém tvrdá vrstva na měkké podložce byl navržen jednoduchý fenomenologický model.