SÝS, Marek a Zdeněk ŘÍHA. Faster Randomness Testing with the NIST Statistical Test Suite. In Chakraborty R., Matyas V. , Schaumont P. Security, Privacy, and Applied Cryptography Engineering. 8804. vyd. neuvedeno: Springer International Publishing, 2014, s. 272-284. ISBN 978-3-319-12059-1. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-12060-7_18.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Faster Randomness Testing with the NIST Statistical Test Suite
Název česky Rychlejší testování náhodnosti se sadou statistických testů NIST
Autoři SÝS, Marek (703 Slovensko, garant, domácí) a Zdeněk ŘÍHA (203 Česká republika, domácí).
Vydání 8804. vyd. neuvedeno, Security, Privacy, and Applied Cryptography Engineering, od s. 272-284, 13 s. 2014.
Nakladatel Springer International Publishing
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10201 Computer sciences, information science, bioinformatics
Stát vydavatele Indie
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Forma vydání tištěná verze "print"
Impakt faktor Impact factor: 0.402 v roce 2005
Kód RIV RIV/00216224:14330/14:00074513
Organizační jednotka Fakulta informatiky
ISBN 978-3-319-12059-1
ISSN 0302-9743
Doi http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-12060-7_18
UT WoS 000349015300018
Klíčová slova česky Berlekamp-Massey algoritmus; NIST STS; statistické testování náhodnosti
Klíčová slova anglicky Berlekamp-Massey algorithm; NIST STS; randomness statistical testing
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Marek Sýs, Ph.D., učo 232886. Změněno: 26. 5. 2015 16:28.
Anotace
Optimised NIST Statistical Test Suite, Fast Berlekamp-Massey algorithm
Návaznosti
EE2.3.30.0037, projekt VaVNázev: Zaměstnáním nejlepších mladých vědců k rozvoji mezinárodní spolupráce
GAP202/11/0422, projekt VaVNázev: Bezpečnostní protokoly podporující soukromí a detekce průniku v bezdrátových senzorových sítích (Akronym: P202/11/0422)
Investor: Grantová agentura ČR, Bezpečnostní protokoly podporující soukromí a detekce průniku v bezdrátových senzorových sítích
VytisknoutZobrazeno: 15. 5. 2024 03:23