RŮŽIČKA, Jiří, Ondřej CAHA, Václav HOLÝ, Hubert STEINER, Valentyn VOLOBUIEV, Andreas NEY, Günther BAUER, Tomáš DUCHON, Kateřina VELTRUSKÁ, I. KHALAKHAN, Vladimír MATOLÍN, E. SCHWIER, H. IWASAWA, K. SHIMADA a Günter SPRINGHOLZ. Structural and electronic properties of manganese-doped Bi2Te3 epitaxial layers. New Journal of Physics. BRISTOL: Institute of Physics, 2015, roč. 17, January, s. "nestránkováno", 11 s. ISSN 1367-2630. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/1367-2630/17/1/013028.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Structural and electronic properties of manganese-doped Bi2Te3 epitaxial layers
Název česky strukturní a elektronové vlastnosti manganem dopovaných Bi2Te3 vrstev
Autoři RŮŽIČKA, Jiří (203 Česká republika, domácí), Ondřej CAHA (203 Česká republika, garant, domácí), Václav HOLÝ (203 Česká republika), Hubert STEINER (40 Rakousko), Valentyn VOLOBUIEV (804 Ukrajina), Andreas NEY (804 Ukrajina), Günther BAUER (40 Rakousko), Tomáš DUCHON (203 Česká republika), Kateřina VELTRUSKÁ (203 Česká republika), I. KHALAKHAN (643 Rusko), Vladimír MATOLÍN (203 Česká republika), E. SCHWIER (276 Německo), H. IWASAWA (392 Japonsko), K. SHIMADA (392 Japonsko) a Günter SPRINGHOLZ (40 Rakousko).
Vydání New Journal of Physics, BRISTOL, Institute of Physics, 2015, 1367-2630.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 3.570
Kód RIV RIV/00216224:14310/15:00081613
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1088/1367-2630/17/1/013028
UT WoS 000348759300013
Klíčová slova česky topologické izolátory; tenké vrstvy; EXAFS; ARPES
Klíčová slova anglicky topological insulators; thin layers; EXAFS; ARPES
Štítky AKR, rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D., učo 4414. Změněno: 1. 3. 2019 11:37.
Anotace
We show that in manganese-doped topological insulator bismuth telluride layers, Mnatoms are incorporated predominantly as interstitials in the van der Waals gaps between the quintuple layers and not substitutionally on Bi sites within the quintuple layers. The structural properties of epitaxial layers withMnconcentration of up to 13% are studied by high-resolution x-ray diffraction, evidencing a shrinking of both the in-plane and out-of plane lattice parameters with increasing Mn content. Ferromagnetism sets in for Mn contents around 3% and the Curie temperatures rises up to 15 K for a Mn concentration of 9%. The easy magnetization axis is along the c-axis perpendicular to the (0001) epilayer plane. Angle-resolved photoemission spectroscopy reveals that the Fermi level is situated in the conduction band and no evidence for a gap opening at the topological surface state with the Dirac cone dispersion is found within the experimental resolution at temperatures close to the Curie temperature. From the detailed analysis of the extended x-ray absorption fine-structure experiments (EXAFS) performed at the MnK-edge, we demonstrate that the Mn atoms occupy interstitial positions within the van der Waals gap and are surrounded octahedrally by Te atoms of the adjacent quintuple layers.
Anotace česky
Ukázali jsme, že v manganem dopovaném teluridu bismutu jsou manganové atomy převážně situovány v intersiticiálních polohách.
Návaznosti
ED1.1.00/02.0068, projekt VaVNázev: CEITEC - central european institute of technology
GAP204/12/0595, projekt VaVNázev: Elektronové a strukturní vlastnosti trojrozměrných topologických izolantů
Investor: Grantová agentura ČR, Elektronové a strukturní vlastnosti trojrozměrných topologických izolantů
VytisknoutZobrazeno: 4. 5. 2024 22:14