2016
Diffraction in a scanning electron microscope
ŘIHÁČEK, Tomáš, Filip MIKA, Milan MATĚJKA, Stanislav KRÁTKÝ, Ilona MÜLLEROVÁ et. al.Základní údaje
Originální název
Diffraction in a scanning electron microscope
Název česky
Difrakce v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Název anglicky
Diffraction in a scanning electron microscope
Autoři
ŘIHÁČEK, Tomáš, Filip MIKA, Milan MATĚJKA, Stanislav KRÁTKÝ a Ilona MÜLLEROVÁ
Vydání
International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./ 2016
Další údaje
Typ výsledku
Prezentace na konferencích
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Změněno: 21. 2. 2019 11:57, Mgr. Bc. Tomáš Řiháček, Ph.D.