2017
Vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer
FRIŠ, Pavel a Adam DUBROKAZákladní údaje
Originální název
Vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer
Autoři
FRIŠ, Pavel (203 Česká republika, domácí) a Adam DUBROKA (203 Česká republika, garant, domácí)
Vydání
Applied Surface Science, AMSTERDAM, ELSEVIER SCIENCE, 2017, 0169-4332
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Nizozemské království
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 4.439
Kód RIV
RIV/00216224:14310/17:00097620
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000408756700026
Klíčová slova anglicky
Far infrared ellipsometry; Phonons; SrTiO3;
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 4. 2018 18:21, Ing. Nicole Zrilić
Anotace
V originále
We present the design and performance of a vacuum far-infrared (similar to 50-680 cm(-1)) ellipsometer witha rotating analyser. The system is based on a Fourier transform spectrometer, an in-house built ellipsometer chamber and a closed-cycle bolometer. The ellipsometer chamber is equipped with a computer controlled theta-2 theta goniometer for automated measurements at various angles of incidence. We compare our measurements on SrTiO3 crystal with the results acquired above 300 cm(-1) with a commercially available ellipsometer system. After the calibration of the angle of incidence and after taking into account the finite reflectivity of mirrors in the detector part we obtain a very good agreement between the data from the two instruments. The system can be supplemented with a closed-cycle He cryostat for measurements between 5 and 400 K. (C) 2016 Published by Elsevier B.V.
Návaznosti
| LQ1601, projekt VaV |
|