MEDUŇA, Mojmír, Fabio ISA, Arik JUNG, Anna MARZEGALLI, Marco ALBANI, Giovanni ISELLA, Kai ZWEIACKER, Leo MIGLIO a Hans VON KÄNEL. Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals. Journal of Applied Crystallography. Chester: INT UNION CRYSTALLOGRAPHY, 2018, roč. 51, č. 2, s. 368-385. ISSN 1600-5767. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals
Název česky Mřížkový sklon a deformace mapované rtg skenováním pomocí nanodifrakce v kompozičně gradovaných SiGe/ Si mikrokrystalech
Autoři MEDUŇA, Mojmír (203 Česká republika, garant, domácí), Fabio ISA (380 Itálie), Arik JUNG (756 Švýcarsko), Anna MARZEGALLI (380 Itálie), Marco ALBANI (380 Itálie), Giovanni ISELLA (380 Itálie), Kai ZWEIACKER (756 Švýcarsko), Leo MIGLIO (380 Itálie) a Hans VON KÄNEL (756 Švýcarsko).
Vydání Journal of Applied Crystallography, Chester, INT UNION CRYSTALLOGRAPHY, 2018, 1600-5767.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 2.867
Kód RIV RIV/00216224:14310/18:00102267
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450
UT WoS 000429090100016
Klíčová slova česky skenovací rentgenová nanodifrakce; prohnutí mřížky; gradované mikrokrystaly SiGe; uvolnění pnutí
Klíčová slova anglicky scanning X-ray nanodiffraction; lattice bending; graded SiGe microcrystals; strain relaxation
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D., učo 7898. Změněno: 10. 1. 2019 11:07.
Anotace
The scanning X-ray nanodiffraction technique is used to reconstruct the three- dimensional (3D) distribution of lattice strain and Ge concentration in compositionally graded Si1-xGex microcrystals epitaxially grown on Si pillars.
Anotace česky
Skenovací rentgenová nanodifrační technika se používá k rekonstrukci třírozměrné (3D) distribuce mřížové deformace a koncentrace Ge v kompozičně gradovaných mikrokrystalech Si1-xGex epitaxiálně rostlých na pilířích Si.
Návaznosti
CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_013/0001728, interní kód MUNázev: CEITEC Nano+ (Akronym: CEITEC Nano)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, CEITEC Nano+, PO 1 Posilování kapacit pro kvalitní výzkum
ED1.1.00/02.0068, projekt VaVNázev: CEITEC - central european institute of technology
VytisknoutZobrazeno: 7. 9. 2024 17:30