2018
Improving SALD ICP MS Repeatibility Using Cold Plasma Treatment of Substrate
PREISLER, Jan, Marek STIBOREK, Masoud SHEKARGOFTAR, Viktor KANICKÝ, Jakub KELAR et. al.Základní údaje
Originální název
Improving SALD ICP MS Repeatibility Using Cold Plasma Treatment of Substrate
Název česky
Zlepšení opakovatelnosti SALD ICP MS s pomocí substrátu ošetřeného studeným plazmatem
Autoři
PREISLER, Jan (203 Česká republika, garant, domácí), Marek STIBOREK (203 Česká republika), Masoud SHEKARGOFTAR (364 Írán), Viktor KANICKÝ (203 Česká republika) a Jakub KELAR (203 Česká republika)
Vydání
XXII International Mass Spectrometry Conference, 2018
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Konferenční abstrakt
Obor
10406 Analytical chemistry
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Kód RIV
RIV/00216224:14310/18:00101132
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
978-88-907388-5-2
Klíčová slova česky
SALD ICP MS; studené plazma; DCSBD; mikrovzorek; interní standard
Klíčová slova anglicky
SALD ICP MS; cold plasma; DCSBD; microsample; internal standard
Změněno: 12. 12. 2018 23:34, prof. Mgr. Jan Preisler, Ph.D.
V originále
Substrate-assisted laser desorption inductively coupled plasma mass spectrometry (SALD ICP MS) is a technique for inorganic analysis of liquid samples of sub-microliter volumes in the form of dried droplets on suitable plastic substrates. Here we study the influence of aging effects on analysis of cadmium and indium in samples prepared by diffuse coplanar surface barrier discharge (DCSBD) modification of plastic substrates.
Česky
Laserová desorpce za účasti substrátu (SALD) spojená s ICP MS je technika pro anorganickou analýzu kapalných vzorků submikrolitrových objemů ve formě vyschlých kapek na vhodném plastovém substrátu. Studovali jsme vliv efektu stárnutí na analýzu kadmia a india nanesených na plastových substrátech ošetřených pomocí difúzního koplanárního povrchového bariérového výboje (DCSBD).
Návaznosti
GA18-16583S, projekt VaV |
| ||
LQ1601, projekt VaV |
|