KRUMPOLEC, Richard, Tomáš HOMOLA, David Campbell CAMERON, Josef HUMLÍČEK, Ondřej CAHA, Karla KULDOVÁ, Raul ZAZPE, Jan PŘIKRYL a Jan M. MACAK. Structural and Optical Properties of Luminescent Copper (I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition. Coatings. 2018, roč. 8, č. 10, s. "369-1"-"369-16", 16 s. ISSN 2079-6412. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.3390/coatings8100369.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Structural and Optical Properties of Luminescent Copper (I) Chloride Thin Films Deposited by Sequentially Pulsed Chemical Vapour Deposition
Autoři KRUMPOLEC, Richard (703 Slovensko, garant, domácí), Tomáš HOMOLA (703 Slovensko, domácí), David Campbell CAMERON (826 Velká Británie a Severní Irsko, domácí), Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika, domácí), Ondřej CAHA (203 Česká republika, domácí), Karla KULDOVÁ (203 Česká republika), Raul ZAZPE (724 Španělsko), Jan PŘIKRYL (203 Česká republika) a Jan M. MACAK (203 Česká republika).
Vydání Coatings, 2018, 2079-6412.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Švýcarsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 2.330
Kód RIV RIV/00216224:14310/18:00101329
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.3390/coatings8100369
UT WoS 000448545400041
Klíčová slova anglicky vapour deposition; copper chloride; characterization; optical properties; XPS; crystal structure
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Michal Petr, učo 65024. Změněno: 23. 4. 2024 12:40.
Anotace
Sequentially pulsed chemical vapour deposition was used to successfully deposit thin nanocrystalline films of copper(I) chloride using an atomic layer deposition system in order to investigate their application to UV optoelectronics. The films were deposited at 125 degrees C using [Bis(trimethylsilyl)acetylene](hexafluoroacetylacetonato)copper(I) as a Cu precursor and pyridine hydrochloride as a new Cl precursor. The films were analysed by XRD, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), SEM, photoluminescence, and spectroscopic reflectance. Capping layers of aluminium oxide were deposited in situ by ALD (atomic layer deposition) to avoid environmental degradation. The film adopted a polycrystalline zinc blende-structure. The main contaminants were found to be organic materials from the precursor. Photoluminescence showed the characteristic free and bound exciton emissions from CuCl and the characteristic exciton absorption peaks could also be detected by reflectance measurements.
Návaznosti
ED2.1.00/03.0086, projekt VaVNázev: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
GA17-02328S, projekt VaVNázev: UVIHOPE Ultrafialová halogenidová optoelektronika (Akronym: UVIHOPE)
Investor: Grantová agentura ČR, UVIHOPE Ultrafialová halogenidová optoelektronika
LO1411, projekt VaVNázev: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy (Akronym: CEPLANT plus)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
LQ1601, projekt VaVNázev: CEITEC 2020 (Akronym: CEITEC2020)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, CEITEC 2020
VytisknoutZobrazeno: 7. 9. 2024 17:42