2018
Smart Grid Testing Management Platform (SGTMP)
SCHVARCBACHER, Martin, Katarína HRABOVSKÁ, Bruno ROSSI a Tomáš PITNERZákladní údaje
Originální název
Smart Grid Testing Management Platform (SGTMP)
Autoři
SCHVARCBACHER, Martin (703 Slovensko), Katarína HRABOVSKÁ (703 Slovensko, domácí), Bruno ROSSI (380 Itálie, garant, domácí) a Tomáš PITNER (203 Česká republika, domácí)
Vydání
Applied Sciences-Basel, BASEL, SWITZERLAND, MDPI AG, 2018, 2076-3417
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10201 Computer sciences, information science, bioinformatics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 2.217
Kód RIV
RIV/00216224:14330/18:00104577
Organizační jednotka
Fakulta informatiky
UT WoS
000451302800268
Klíčová slova anglicky
smart grid testing platform; smart meter; ISO/IEC/IEEE 29119 software testing standard; hardware in the loop; co-simulation frameworks
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 30. 4. 2019 07:44, RNDr. Pavel Šmerk, Ph.D.
Anotace
V originále
The Smart Grid (SG) is nowadays an essential part of modern society, providing two-way energy flow and smart services between providers and customers. The main drawback is the SG complexity, with an SG composed of multiple layers, with devices and components that have to communicate, integrate, and cooperate as a unified system. Such complexity brings challenges for ensuring proper reliability, resilience, availability, integration, and security of the overall infrastructure. In this paper, we introduce a new smart grid testing management platform (herein called SGTMP) for executing real-time hardware-in-the-loop SG tests and experiments that can simplify the testing process in the context of interconnected SG devices. We discuss the context of usage, the system architecture, the interactive web-based interface, the provided API, and the integration with co-simulations frameworks to provide virtualized environments for testing. Furthermore, we present one main scenario about the stress-testing of SG devices that can showcase the applicability of the platform.
Návaznosti
EF16_019/0000822, projekt VaV |
|