FEKETE, Matej, Katarína BERNÁTOVÁ, Peter KLEIN, Jaroslav HNILICA a Petr VAŠINA. Evolution of discharge parameters and sputtered species ionization in reactive HiPIMS with oxygen, nitrogen and acetylene. Plasma Sources Science and Technology. Bristol: IOP Publishing Ltd., 2019, roč. 28, č. 2, s. 1-11. ISSN 0963-0252. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1088/1361-6595/ab0363.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Evolution of discharge parameters and sputtered species ionization in reactive HiPIMS with oxygen, nitrogen and acetylene
Autoři FEKETE, Matej (703 Slovensko, domácí), Katarína BERNÁTOVÁ (703 Slovensko, domácí), Peter KLEIN (703 Slovensko, domácí), Jaroslav HNILICA (203 Česká republika, domácí) a Petr VAŠINA (203 Česká republika, garant, domácí).
Vydání Plasma Sources Science and Technology, Bristol, IOP Publishing Ltd. 2019, 0963-0252.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW Full Text
Impakt faktor Impact factor: 3.193
Kód RIV RIV/00216224:14310/19:00109216
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1088/1361-6595/ab0363
UT WoS 000460060600001
Klíčová slova anglicky magnetron sputtering; reactive HiPIMS; ionization fraction; titanium; oxygen; nitrogen; acetylene
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Matej Fekete, Ph.D., učo 376265. Změněno: 24. 6. 2020 09:13.
Anotace
Reactive high power impulse magnetron sputtering offers a great opportunity for high quality coating production, thus understanding the processes accompanying deposition is of great importance. In this paper, the evolution of numerous discharge parameters such as total pressure, discharge current and sputtered species number densities are studied in argon with oxygen, nitrogen or acetylene admixture. The experiments are compared to the reactive direct current magnetron sputtering where the deposition process usually exhibits hysteresis behaviour and the ionization fraction of sputtered species is significantly lower. The decrease in the titanium atom and ion number densities with the increasing degree of target poisoning is detected for all the studied admixtures. However, while the sputtered species number densities decrease the sputtered species ionization fraction increases. Depending on the reactive gas admixture, the ionization fraction of the sputtered species increases from 75% achieved in pure argon discharge up to 90% attained in the poisoned mode of the reactive sputtering. This increase was the most pronounced for oxygen and nitrogen admixtures. Mutual comparison of the reactive sputtering with nitrogen, oxygen and acetylene indicated multiple causes for the observed increase.
Návaznosti
LO1411, projekt VaVNázev: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy (Akronym: CEPLANT plus)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
VytisknoutZobrazeno: 27. 4. 2024 05:21