2019
Evolution of discharge parameters and sputtered species ionization in reactive HiPIMS with oxygen, nitrogen and acetylene
FEKETE, Matej, Katarína BERNÁTOVÁ, Peter KLEIN, Jaroslav HNILICA, Petr VAŠINA et. al.Základní údaje
Originální název
Evolution of discharge parameters and sputtered species ionization in reactive HiPIMS with oxygen, nitrogen and acetylene
Autoři
FEKETE, Matej (703 Slovensko, domácí), Katarína BERNÁTOVÁ (703 Slovensko, domácí), Peter KLEIN (703 Slovensko, domácí), Jaroslav HNILICA (203 Česká republika, domácí) a Petr VAŠINA (203 Česká republika, garant, domácí)
Vydání
Plasma Sources Science and Technology, Bristol, IOP Publishing Ltd. 2019, 0963-0252
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 3.193
Kód RIV
RIV/00216224:14310/19:00109216
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000460060600001
Klíčová slova anglicky
magnetron sputtering; reactive HiPIMS; ionization fraction; titanium; oxygen; nitrogen; acetylene
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 24. 6. 2020 09:13, Mgr. Matej Fekete, Ph.D.
Anotace
V originále
Reactive high power impulse magnetron sputtering offers a great opportunity for high quality coating production, thus understanding the processes accompanying deposition is of great importance. In this paper, the evolution of numerous discharge parameters such as total pressure, discharge current and sputtered species number densities are studied in argon with oxygen, nitrogen or acetylene admixture. The experiments are compared to the reactive direct current magnetron sputtering where the deposition process usually exhibits hysteresis behaviour and the ionization fraction of sputtered species is significantly lower. The decrease in the titanium atom and ion number densities with the increasing degree of target poisoning is detected for all the studied admixtures. However, while the sputtered species number densities decrease the sputtered species ionization fraction increases. Depending on the reactive gas admixture, the ionization fraction of the sputtered species increases from 75% achieved in pure argon discharge up to 90% attained in the poisoned mode of the reactive sputtering. This increase was the most pronounced for oxygen and nitrogen admixtures. Mutual comparison of the reactive sputtering with nitrogen, oxygen and acetylene indicated multiple causes for the observed increase.
Návaznosti
LO1411, projekt VaV |
|