J 2018

Depth-resolved analysis of historical painting model samples by means of laser-induced breakdown spectroscopy and handheld X-ray fluorescence

POSPÍŠILOVÁ, Eva, Karel NOVOTNÝ, Pavel POŘÍZKA, David HRADIL, Janka HRADILOVÁ et. al.

Základní údaje

Originální název

Depth-resolved analysis of historical painting model samples by means of laser-induced breakdown spectroscopy and handheld X-ray fluorescence

Autoři

POSPÍŠILOVÁ, Eva (203 Česká republika, domácí), Karel NOVOTNÝ (203 Česká republika, garant, domácí), Pavel POŘÍZKA (203 Česká republika), David HRADIL (203 Česká republika), Janka HRADILOVÁ (203 Česká republika), Jozef KAISER (203 Česká republika) a Viktor KANICKÝ (203 Česká republika, domácí)

Vydání

Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, Oxford, Elsevier, 2018, 0584-8547

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10406 Analytical chemistry

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 3.101

Kód RIV

RIV/00216224:14310/18:00106466

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000445167800013

Klíčová slova česky

Spektroskopie laserem buzeného plazmatu LIBS; hloubkové profilování; malby; ablační rychlost

Klíčová slova anglicky

LIBS; XRF; depth profiling; paintings; ablation rate

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 31. 10. 2019 12:57, Mgr. Michal Petr

Anotace

V originále

Paintings represent composed materials arranged in successive layers. Development of a suitable method for a depth-profiling analysis is essential for acquiring the information on the stratigraphy as well as on the chemical composition of individual layers, revealing the pigments which had been used. In this study, a depth-resolved analysis of multi-layered model samples of historical easel paintings was performed by means of laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) in combination with non-invasive X-ray fluorescence (XRF). The LIBS analysis was carried out using modified laser ablation system, UP-266 MACRO, equipped with a Czerny-Turner spectrometer. The XRF analysis was performed by handheld spectrometer, Delta Premium. In LIBS experiments, a set of six spots was examined with 5, 10, 15, 20, 25 and 30 pulses respectively, for each of the studied paint samples. Digital and 3D optical microscopy was employed to measure individual layer thickness and to obtain the information on average ablation rates of each sample. The chemical composition of the model samples with each layer partly uncovered was known, and this enabled to directly compare the results obtained by LIBS depth profiling with a fast analysis carried out with the handheld XRF spectrometer. The LIBS depth profiling proved to be a suitable method to distinguish layers of a different material composition and estimate their thickness. The combined use of LIBS and XRF analyses offered essential complementary information on the elemental composition of analysed multi-layered samples.

Návaznosti

LQ1601, projekt VaV
Název: CEITEC 2020 (Akronym: CEITEC2020)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, CEITEC 2020
MUNI/A/1288/2017, interní kód MU
Název: Výzkum, vývoj a aplikace v analytické a fyzikální chemii (Akronym: AFCH)
Investor: Masarykova univerzita, Výzkum, vývoj a aplikace v analytické a fyzikální chemii, DO R. 2020_Kategorie A - Specifický výzkum - Studentské výzkumné projekty