VANÍČKOVÁ, Elena, Markéta HOLÁ, Karel RAPOUCH, David PAVLIŇÁK, Radka KOPECKÁ a Viktor KANICKÝ. LA-ICP-MS analysis of metal layers on samples of cultural heritage. Chemical Papers. Cham: SPRINGER INTERNATIONAL PUBLISHING AG, 2019, roč. 73, č. 12, s. 2923-2936. ISSN 2585-7290. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1007/s11696-019-00745-6.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název LA-ICP-MS analysis of metal layers on samples of cultural heritage
Autoři VANÍČKOVÁ, Elena (203 Česká republika, domácí), Markéta HOLÁ (203 Česká republika, garant, domácí), Karel RAPOUCH (203 Česká republika, domácí), David PAVLIŇÁK (203 Česká republika, domácí), Radka KOPECKÁ (203 Česká republika, domácí) a Viktor KANICKÝ (203 Česká republika, domácí).
Vydání Chemical Papers, Cham, SPRINGER INTERNATIONAL PUBLISHING AG, 2019, 2585-7290.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10400 1.4 Chemical sciences
Stát vydavatele Švýcarsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW Full Text
Impakt faktor Impact factor: 1.680
Kód RIV RIV/00216224:14310/19:00110379
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1007/s11696-019-00745-6
UT WoS 000488930200006
Klíčová slova anglicky Laser ablation; Inductively coupled plasma mass spectrometry; Depth profiling; X-ray fluorescence spectroscopy; Metal layer
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Marie Šípková, DiS., učo 437722. Změněno: 22. 2. 2023 15:26.
Anotace
LA-ICP-MS (laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry) was applied as a semi-destructive method for the analysis of metal layers on samples of cultural heritage. The LA system operates at a wavelength of 193 nm with a pulse duration of 4 ns. The laser ablation was performed using spot mode with a diameter of 110 mu m. This method was developed using eight varied reference samples with a defined layer depth and composition. Four real samples of watch cases were analysed, and the layer composition and thickness were determined together with two test reference samples. The analytical results were compared with X-ray fluorescence spectroscopy analysis. The layer thickness was additionally determined by scanning electron microscopy on the cross section of selected samples.
Návaznosti
LO1411, projekt VaVNázev: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy (Akronym: CEPLANT plus)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy
LQ1601, projekt VaVNázev: CEITEC 2020 (Akronym: CEITEC2020)
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, CEITEC 2020
VytisknoutZobrazeno: 29. 7. 2024 08:01