HULICIUS, E., K. KULDOVA, A. HOSPODKOVA, J. PANGRAC, F. DOMINEC, Josef HUMLÍČEK, I. PELANT, O. CIBULKA a K. HERYNKOVA. MOVPE GaN/AlGaN HEMT NANO-STRUCTURES. Online. In 10TH ANNIVERSARY INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOMATERIALS - RESEARCH & APPLICATION (NANOCON 2018 (R)). SLEZSKA: TANGER LTD, 2019, s. 30-35. ISBN 978-80-87294-89-5.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název MOVPE GaN/AlGaN HEMT NANO-STRUCTURES
Autoři HULICIUS, E., K. KULDOVA, A. HOSPODKOVA, J. PANGRAC, F. DOMINEC, Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika, garant, domácí), I. PELANT, O. CIBULKA a K. HERYNKOVA.
Vydání SLEZSKA, 10TH ANNIVERSARY INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOMATERIALS - RESEARCH & APPLICATION (NANOCON 2018 (R)), od s. 30-35, 6 s. 2019.
Nakladatel TANGER LTD
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10300 1.3 Physical sciences
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Forma vydání elektronická verze "online"
WWW URL
Kód RIV RIV/00216224:14740/19:00108444
Organizační jednotka Středoevropský technologický institut
ISBN 978-80-87294-89-5
UT WoS 000513131900004
Klíčová slova anglicky HEMT; MOVPE; nitrides; quantum well
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Pavla Foltynová, Ph.D., učo 106624. Změněno: 24. 4. 2020 11:16.
Anotace
GaN/AlGaN-based high electron mobility transistors (HEMTs) attain better performance than their state-of-the-art full silicon-based counterparts, offering higher power, higher frequency as well as higher temperature of operation and stability, although their voltage and current limits are somewhat lower than for the SiC-based HEMTs. GaN/AlGaN-based HEMTs are a potential choice for electric-powered vehicles, for which they are approved not only for their power parameters, but also for their good temperature stability, lifetime and reliability. It is important to optimize HEMT structures and their growth parameters to reach the optimum function for the real-world applications. HEMT structures described and discussed here were grown by MOVPE technology in AIXTRON apparatus on (111)-oriented single-surface polished 6" Si substrates. Structural, optical and transport properties of the structures were measured by X-ray diffraction, optical reflectivity, time-resolved photoluminescence and mu-Raman spectroscopy.
Návaznosti
TH02010014, projekt VaVNázev: Nové polovodičové struktury pro pokročilé elektronické aplikace
Investor: Technologická agentura ČR, Nové polovodičové struktury pro pokročilé elektronické aplikace
VytisknoutZobrazeno: 28. 4. 2024 11:26