PROKEŠ, Lubomír, Magdaléna GORYLOVÁ, Kateřina Čermák ŠRAITROVÁ, Virginie NAZABAL, Josef HAVEL a Petr NĚMEC. Arsenic-Doped SnSe Thin Films Prepared by Pulsed Laser Deposition. ACS Omega. American Chemical Society, 2021, roč. 6, č. 27, s. 17483-17491. ISSN 2470-1343. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1021/acsomega.1c01892.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Arsenic-Doped SnSe Thin Films Prepared by Pulsed Laser Deposition
Autoři PROKEŠ, Lubomír (203 Česká republika, domácí), Magdaléna GORYLOVÁ, Kateřina Čermák ŠRAITROVÁ, Virginie NAZABAL, Josef HAVEL (203 Česká republika, domácí) a Petr NĚMEC (garant).
Vydání ACS Omega, American Chemical Society, 2021, 2470-1343.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 20501 Materials engineering
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 4.132
Kód RIV RIV/00216224:14310/21:00122328
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1021/acsomega.1c01892
UT WoS 000674270200034
Klíčová slova anglicky Thin films; Pulsed laser deposition; Layers; Cluster chemistry; Lasers
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Marie Šípková, DiS., učo 437722. Změněno: 14. 9. 2021 13:01.
Anotace
Pulsed UV laser deposition was exploited for the preparation of thin Sn50-xAsxSe50 (x = 0, 0.05, 0.5, and 2.5) films with the aim of investigating the influence of low arsenic concentration on the properties of the deposited layers. It was found that the selected deposition method results in growth of a highly (h00) oriented orthorhombic SnSe phase. The thin films were characterized by different techniques such as X-ray diffraction, scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray spectroscopy, atomic force microscopy, Raman scattering spectroscopy, and spectroscopic ellipsometry. From the results, it can be concluded that thin films containing 0.5 atom % of As exhibited extreme values regarding crystallite size, unit cell volume, or refractive index that significantly differ from those of other samples. Laser ablation with quadrupole ion trap time-of-flight mass spectrometry was used to identify and compare species present in the plasma originating from the interaction of a laser pulse with solid-state Sn50-xAsxSe50 materials in both forms, i.e. parent powders as well as deposited thin films. The mass spectra of both materials were similar; particularly, signals of SnmSen+ clusters with low m and n values were observed.
Návaznosti
90103, velká výzkumná infrastrukturaNázev: CEMNAT II
VytisknoutZobrazeno: 12. 7. 2024 13:03