Metody analýz polovodičů s širokým zakazáným pásem
| CAHA, Ondřej a Josef HUMLÍČEK. Metody analýz polovodičů s širokým zakazáným pásem. ON Semiconductor, 2020. |
|
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
| Základní údaje | |
|---|---|
| Originální název | Metody analýz polovodičů s širokým zakazáným pásem |
| Název anglicky | Analztical methods of wide band gap semiconductors |
| Autoři | CAHA, Ondřej (203 Česká republika, garant, domácí) a Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika). |
| Vydání | 2020. |
| Nakladatel | ON Semiconductor |
| Další údaje | |
|---|---|
| Originální jazyk | čeština |
| Typ výsledku | Projekty výzkumu a vývoje |
| Obor | 10302 Condensed matter physics |
| Stát vydavatele | Česká republika |
| Utajení | není předmětem státního či obchodního tajemství |
| Kód RIV | RIV/00216224:14740/20:00120006 |
| Organizační jednotka | Středoevropský technologický institut |
| Klíčová slova česky | polovodiče se širokým pásem zakázaných energií |
| Klíčová slova anglicky | wide band gap semiconductors |
| Štítky | rivok |
| Změnil | Změnila: Mgr. Pavla Foltynová, Ph.D., učo 106624. Změněno: 2. 3. 2022 14:52. |
| Anotace |
|---|
| Popsány jsou metody analýzy polovodičů se širokým pásem zakázaných energií, hlavně karbidu křemíku. Jedná se technologie určení polytypového složení pomocí rtg difrakce a Ramanovského rozptylu, zobarzování krystalografických defektů pomocí rtg difrakčních zobrazovacích metod a dopování pomocí optické spektroskopie. |
| Anotace anglicky |
|---|
| This report describes methods of wide band gap semiconductor analysis. We have studied polytype composition using x-ray diffraction and Raman spectroscopy, crystalkographic defects using x-ray diffraction imaging and doping homogeneity using optical spectroscopy. ou metody analýe polovdičů se širokým pásem zakázaných energií, hlavně karbidu křemíku. Jedná se technologie určení polytypového složení pomocí rtg difrakce a Ramanovského rozptylu, zobarzování krystalografických defektů pomocí rtg difrakčních zobrazovacích metod a dopování pomocí optické spektroskopie. |
| Návaznosti | |
|---|---|
| TH03020005, projekt VaV | Název: Výzkum a vývoj objemových polovodičových materiálů s velkou šířkou zakázaného pásu |
| Investor: Technologická agentura ČR, Výzkum a vývoj objemových polovodičových materiálů s velkou šířkou zakázaného pásu | |
VytisknoutZobrazeno: 27. 4. 2024 20:03