Quantitative X-Ray diffractometry

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Podrobný výpis o publikaci

Podrobný výpis o publikaci

1995

Quantitative X-Ray diffractometry

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL

Základní údaje

Originální název

Quantitative X-Ray diffractometry

Autoři

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL
Edited by Inez Mureinik.

Vydání

New York, xvii, 372, 1995

Nakladatel

Springer-Verlag

Další údaje

ISBN

0387945415

Změněno: 9. 9. 2024 04:46, Záznam byl importován z knihovního systému.

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. Quantitative X-Ray diffractometry. Edited by Inez Mureinik. New York: Springer-Verlag, 1995, xvii, 372. ISBN 0387945415.

ZEVIN, Lev S. a Giora KIMMEL. \textit{Quantitative X-Ray diffractometry}. Edited by Inez Mureinik. New York: Springer-Verlag, 1995, xvii, 372. ISBN~0387945415.