HOLÝ, Václav, Josef KUBĚNA a Ivan OHLÍDAL. X-ray reflection from rough layered systems. Phys. Rev. B. 1993, roč. 47, č. 23, s. 15896-16798. ISSN 0163-1829.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název X-ray reflection from rough layered systems
Autoři HOLÝ, Václav, Josef KUBĚNA a Ivan OHLÍDAL.
Vydání Phys. Rev. B, 1993, 0163-1829.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/93:00000229
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS A1993LJ15400063
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 07:41.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 3. 8. 2024 10:20