Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films

HUMLÍČEK, Josef, K. KAMARAS a J. KIRCHER. Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1993, roč. 234, č. 1, s. 518-521. ISSN 0040-6090.

Základní údaje

Originální název

Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films

Autoři

HUMLÍČEK, Josef, K. KAMARAS a J. KIRCHER

Vydání

Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1993, 0040-6090

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/93:00000235

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

---

Návaznosti

MSM 143100002, záměr

Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur