New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films

HLÁVKA, Jan, Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA. New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 1996, roč. 279, s. 209-212. ISSN 0040-6090.

Základní údaje

Originální název

New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films

Autoři

HLÁVKA, Jan, Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA

Vydání

Thin Solid Films, Oxford, UK, Elsevier science, 1996, 0040-6090

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10301 Atomic, molecular and chemical physics

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

A1996VB37200040

Klíčová slova anglicky

Optical properties; Photovoltage; Semiconductors

Štítky

Optical properties, Photovoltage, Semiconductors