1996
Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition of Thin Films from Tetraethoxysilane and Methanol: Optical Properties and XPS Analyses
ZAJÍČKOVÁ, Lenka, Ivan OHLÍDAL a Jan JANČAZákladní údaje
Originální název
Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition of Thin Films from Tetraethoxysilane and Methanol: Optical Properties and XPS Analyses
Autoři
ZAJÍČKOVÁ, Lenka (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika) a Jan JANČA (203 Česká republika)
Vydání
Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1996, 0040-6090
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/96:00000441
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
PECVD; TEOS
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 17. 7. 2007 17:04, doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.
Návaznosti
MSM 143100003, záměr |
|