Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films
by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry

Přeskočit na horní lištu Přeskočit na hlavičku Přeskočit na obsah Přeskočit na patičku

Publikace Podrobný výpis o publikaci

Podrobný výpis o publikaci

J 1997

Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry

OHLÍDAL, Ivan a Karel NAVRÁTIL

Základní údaje

Originální název

Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry

Autoři

OHLÍDAL, Ivan a Karel NAVRÁTIL

Vydání

Jemná mechanika a optika, Přerov, Physical Institute, ASCR, 1997, 0447-6441

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10306 Optics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Změněno: 6. 3. 2000 18:15, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

OHLÍDAL, Ivan a Karel NAVRÁTIL. Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1997, roč. 42, č. 3, s. 76-79. ISSN 0447-6441.

@article{197822,
   author = {Ohlídal, Ivan and Navrátil, Karel},
   article_location = {Přerov},
   article_number = {3},
   language = {eng},
   issn = {0447-6441},
   journal = {Jemná mechanika a optika},
   title = {Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry},
   volume = {42},
   year = {1997}
}

TY  - JOUR
ID  - 197822
AU  - Ohlídal, Ivan - Navrátil, Karel
PY  - 1997
TI  - Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry
JF  - Jemná mechanika a optika
VL  - 42
IS  - 3
SP  - 76
EP  - 76
PB  - Physical Institute, ASCR
SN  - 04476441
ER  -

OHLÍDAL, Ivan a Karel NAVRÁTIL. Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry. \textit{Jemná mechanika a optika}. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1997, roč.~42, č.~3, s.~76-79. ISSN~0447-6441.