J 1998

Depth inhomogeneity of deposited thin films: application to semi-insulating polycrystalline silicon films

KUČÍRKOVÁ, Assja, Karel NAVRÁTIL a J. ZEMEK

Základní údaje

Originální název

Depth inhomogeneity of deposited thin films: application to semi-insulating polycrystalline silicon films

Autoři

Vydání

Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1998, 0040-6090

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.019

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000074746000009

Klíčová slova anglicky

thin films

Štítky

Změněno: 18. 4. 2000 09:56, doc. RNDr. Assja Kučírková, CSc.