J 1998

Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries

FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL

Základní údaje

Originální název

Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries

Autoři

FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant) a Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika)

Vydání

Journal of modern optics, Londýn, Taylor & Francis Ltd. 1998, 0950-0340

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10306 Optics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 1.165

Kód RIV

RIV/00216224:14310/98:00003213

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000073467700003
Změněno: 19. 12. 2003 19:32, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

Anotace

V originále

In this theoretical paper formulae for important optical quantities of single layers with slightly randomly rough boundaries are derived by means of a generalized Rayleigh-Rice theory. Thus the formulae for the specular reflectances, ellipsometric parameters and flux of scattered energy of the layers mentioned are presented. The theoretical results are illustrated by a numerical analysis. Practical features implied by this analysis to be relevant from the experimental point of view are introduced as well.

Návaznosti

GA202/98/0988, projekt VaV
Název: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Grantová agentura ČR, Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod