OHLÍDAL, Ivan. Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1999, roč. 1999, č. 2, s. 53-57. ISSN 0447-6441.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie
Název anglicky Complete optical characterisation of nonabsorbing double layers and triple layers using multiple angle of incidence ellipsometry
Autoři OHLÍDAL, Ivan.
Vydání Jemná mechanika a optika, Přerov, Physical Institute, ASCR, 1999, 0447-6441.
Další údaje
Originální jazyk čeština
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/99:00003230
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 27. 2. 2001 16:37.
Anotace
V této práci je popsána elipsometrická metoda umožňující určit hodnoty všech optických parametrů, tj. hodnoty indexů lomu a tlouštěk, neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev umístěných na absorbujících podložkách.
Anotace anglicky
In this paper the ellipsometric method enabling us to determine the values of all the optical parameters, ie. the values of the refractive indices and thicknesses, of non-absorbing double layers and triple layers placed onto absorbing substrate is described.
Návaznosti
GA202/98/0988, projekt VaVNázev: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Grantová agentura ČR, Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
VytisknoutZobrazeno: 14. 5. 2024 01:44