J 2023

Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model

FRANTA, Daniel, Jiří VOHÁNKA, Jan DVOŘÁK, Pavel FRANTA, Ivan OHLÍDAL et. al.

Základní údaje

Originální název

Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model

Autoři

FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant, domácí), Jiří VOHÁNKA (203 Česká republika, domácí), Jan DVOŘÁK (203 Česká republika, domácí), Pavel FRANTA (203 Česká republika, domácí), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, domácí), Petr KLAPETEK, Jaromír BŘEZINA a David ŠKODA

Vydání

Coatings, MDPI, 2023, 2079-6412

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

20501 Materials engineering

Stát vydavatele

Švýcarsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 3.400 v roce 2022

Kód RIV

RIV/00216224:14310/23:00130861

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000938947900001

Klíčová slova anglicky

gadolinium fluoride; optical constants; dielectric response; ellipsometry; spectrophotometry; refractive index profile; roughness; porosity; heterogeneous data processing

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 21. 2. 2024 16:12, Mgr. Marie Šípková, DiS.

Anotace

V originále

The optical characterization of gadolinium fluoride (GdF3) films is performed in a wide spectral range using heterogeneous data-processing methods (the ellipsometric and spectrophotometric measurements for five samples with thicknesses ranging from 20 to 600 nm are processed simultaneously). The main result of the characterization is the optical constants of GdF3 in the range from far infrared to vacuum ultraviolet, both in the form of a table and in the form of dispersion parameters of the universal dispersion model (UDM). Such reliable data in such a broad spectral range have not been published so far. The GdF3 films exhibit several defects related to the porous polycrystalline structure, namely, surface roughness and a refractive index profile, which complicate the optical characterization. The main complication arises from the volatile adsorbed components, which can partially fill the pores. The presented optical method is based on the application of the UDM for the description of the optical response of GdF3 films with partially filled pores. Using this dispersion model, it is possible to effectively separate the optical response of the host material from the response of the adsorbed components. Several recently published structural and dispersion models are used for optical characterization for the first time. For example, a model of inhomogeneous rough films based on Rayleigh–Rice theory or asymmetric peak approximation with a Voigt profile for the phonon spectra of polycrystalline materials.

Návaznosti

FV40328, projekt VaV
Název: Realizace vrstevnatých systémů s požadovanými spektrálními závislostmi odrazivosti a propustnosti ve střední ultrafialové oblasti spektra
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Realizace vrstevnatých systémů s požadovanými spektrálními závislostmi odrazivosti a propustnosti ve střední ultrafialové oblasti spektra
90097, velká výzkumná infrastruktura
Název: CEPLANT
90110, velká výzkumná infrastruktura
Název: CzechNanoLab