NAVRÁTIL, J., Ondřej CAHA, J. KOPEČEK, P. ČERMÁK, J. PROKLEŠKA, Václav HOLÝ, V. SECHOVSKÝ, L. BENEŠ, K. CARVA, J. HONOLKA a Č. DRAŠAR. Electronic properties of Fe impurities in SnS van der Waals crystals – Revealing high-mobility holes. Materials Science and Engineering: B. Elsevier, 2024, roč. 301, March 2024, s. 1-10. ISSN 0921-5107. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2023.117148.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Electronic properties of Fe impurities in SnS van der Waals crystals – Revealing high-mobility holes
Autoři NAVRÁTIL, J., Ondřej CAHA (203 Česká republika, domácí), J. KOPEČEK, P. ČERMÁK, J. PROKLEŠKA, Václav HOLÝ (203 Česká republika, domácí), V. SECHOVSKÝ, L. BENEŠ, K. CARVA, J. HONOLKA a Č. DRAŠAR.
Vydání Materials Science and Engineering: B, Elsevier, 2024, 0921-5107.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 3.600 v roce 2022
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2023.117148
UT WoS 001155796300001
Klíčová slova anglicky p-type SnS; Single crystal; Semiconductor; Doping; Electrical properties
Štítky rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Marie Šípková, DiS., učo 437722. Změněno: 28. 2. 2024 11:50.
Anotace
Defect control is critical to achieve long carrier lifetimes in semiconductors. SnS is a promising thermoelectric and photovoltaic material, in which native defects play a detrimental role, particularly in photovoltaics. In this study, we investigated the Fe-doping of SnS and the interaction of Fe impurities with native defects in a series of single crystals of Sn1-xFexS up to concentrations of x = 0.05. Although the doped single crystals appear rather disordered, the hole mobility is very high (∼8500 cm2V-1s−1 at 30 K for Sn0.99Fe0.01S), suggesting that hole-mediated charge transport in this material is largely insensitive to extrinsic impurities. Charge transport analysis suggests that the incorporation of Fe atoms leads to the healing of the intrinsic defect structure and the exclusion of minority electrons from charge transport, allowing the observation of high hole mobility.
Návaznosti
90251, velká výzkumná infrastrukturaNázev: CzechNanoLab II
90265, velká výzkumná infrastrukturaNázev: MGML II
VytisknoutZobrazeno: 23. 6. 2024 21:10