2024
On direct-current magnetron sputtering at industrial conditions with high ionization fraction of sputtered species
HNILICA, Jaroslav, Peter KLEIN, Martin UČÍK, Stanislava DEBNÁROVÁ, Jan KLUSOŇ et. al.Základní údaje
Originální název
On direct-current magnetron sputtering at industrial conditions with high ionization fraction of sputtered species
Autoři
HNILICA, Jaroslav (203 Česká republika, garant, domácí), Peter KLEIN (703 Slovensko, domácí), Martin UČÍK (203 Česká republika, domácí), Stanislava DEBNÁROVÁ (703 Slovensko, domácí), Jan KLUSOŇ a Petr VAŠINA (203 Česká republika, domácí)
Vydání
Surface and Coatings Technology, Elsevier B.V. 2024, 0257-8972
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10300 1.3 Physical sciences
Stát vydavatele
Švýcarsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 5.400 v roce 2022
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
001260010200001
Klíčová slova anglicky
Titanium; Magnetron sputtering; Industry; HiPIMS; Coatings
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 17. 7. 2024 10:26, Mgr. Marie Šípková, DiS.
Anotace
V originále
In the industry, there is a preference for robust and technologically straightforward solutions that can deliver desired products at reasonable costs. This study introduces a reliable, robust, and cost-effective ion-assisted thin film growth technique called moving focused magnetic field magnetron sputtering. At the core of this technology lies the generation of dense plasma within a small area of the target and the controlled movement of this plasma across the entire target surface. The deposition process, powered by a direct current generator, behaves similarly to high-power impulse magnetron sputtering and yields coatings with properties comparable to those produced by this method. Notably, this study marks the first application of an ion meter to measure the ionized metal flux fraction of sputtered titanium at industrial conditions, revealing values of up to 34% measured at the substrate position.
Návaznosti
LM2023039, projekt VaV |
|