J 2001

Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films

FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Miloslav FRUMAR a Jaroslav JEDELSKÝ

Základní údaje

Originální název

Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films

Autoři

FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Miloslav FRUMAR (203 Česká republika) a Jaroslav JEDELSKÝ (203 Česká republika)

Vydání

Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2001, 0169-4332

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

Impakt faktor

Impact factor: 1.068

Kód RIV

RIV/00216224:14310/01:00004310

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000169032100092

Klíčová slova anglicky

Chalcogenide films; Dispersion model; Ellipsometry; Reflectometry

Štítky

Změněno: 25. 12. 2003 00:41, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

Anotace

V originále

In this paper the optical characterization of a film of amorphous As-S chalcogenides evaporated on glass substrates will be performed using variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry (VASE) and near normal incidence spectroscopic reflectometry (NNSR). The spectral dependences of the ellipsometric parameters and reflectance of the chalcogenide thin film mentioned is measured within the near-UV, visible and near-IR spectral regions. For interpreting these optical quantities the new dispersion model of the spectral dependences of the optical constants of amorphous solids is employed. This model is based on the modified Lorentz oscillator. Within this model the concepts of the band gap and Urbach tail are respected.

Návaznosti

GA203/00/0085, projekt VaV
Název: Optické vlastnosti skel a amorfních tenkých vrstev sulfidů a selenidů
Investor: Grantová agentura ČR, Optické vlastnosti skel a amorfních tenkých vrstev sulfidů a selenidů