2001
Stanovení povrchové energie diamantu-podobných vrstev nanášených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje
PRYČKOVÁ, Jana, Vilma BURŠÍKOVÁ, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Pavel DVOŘÁK, Deepak Prasad SUBEDI et. al.Základní údaje
Originální název
Stanovení povrchové energie diamantu-podobných vrstev nanášených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje
Název česky
Stanovení povrchové energie diamantu-podobných vrstev nanášených v plazmatu vysokofrekvenčního výboje
Název anglicky
Determination of the surface energy of diamond like coatings deposited by PECVD
Autoři
PRYČKOVÁ, Jana, Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika, garant), Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika), Pavel DVOŘÁK (203 Česká republika) a Deepak Prasad SUBEDI (524 Nepál)
Vydání
Banská Bystrica, 53, ZJAZD CHEMICKÝCH SPOLOČNOSTÍ, Zborník príspevkov, s. 341-342, 2001
Nakladatel
FPV Univerzita Mateja Bela v Banskej Bystrici
Další údaje
Jazyk
čeština
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10403 Physical chemistry
Stát vydavatele
Slovensko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/01:00005649
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
80-89029-23-X
Klíčová slova anglicky
surface energy; contact angle; DLC deposition; PECVD
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam
Změněno: 8. 2. 2008 20:03, doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D.
V originále
Měření kontaktního úhlu je velmi citlivá metoda charakterizace povrchů pevných materiálů. Na základě měření kontaktního úhlu lze určit volnou povrchovou energii pevných materiálů a adhezní energii rozhraní vrstva-substrát. Existuje celá řada různých modelů pro výpočet povrchové energie ze změřeného kontaktního úhlu. V práci se dikutuje vhodnost použití jednotlivých metod pro různé typy plazmochemicky připravených diamantu-podobných vrstev.
Anglicky
Contact angle measurement is a highly sensitive technique for the determination of the properties of the surfaces. From the contact angle measurement, the surface free energy of thin films and the interfacial tension between the deposited film and the substrate can be obtained. The aim of the present work is to characterise plasma deposited silicon containing diamond-like (DLC) films by different models for surface energy calculation and to find the optimum determination method.
Návaznosti
GA202/00/P037, projekt VaV |
| ||
MSM 143100003, záměr |
| ||
OC 527.20, projekt VaV |
|