Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů
KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 47, 6-7s, s. 79-81. ISSN 0009-0700. |
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
Základní údaje | |
---|---|
Originální název | Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů |
Název anglicky | Comparison of NSOM and AFM images of chosen samples |
Autoři | KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant) a Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika). |
Vydání | Československý časopis pro fyziku, Praha, Fyzikální ústav AV ČR, 2003, 0009-0700. |
Další údaje | |
---|---|
Originální jazyk | čeština |
Typ výsledku | Článek v odborném periodiku |
Obor | 10302 Condensed matter physics |
Stát vydavatele | Česká republika |
Utajení | není předmětem státního či obchodního tajemství |
Kód RIV | RIV/00216224:14310/03:00008191 |
Organizační jednotka | Přírodovědecká fakulta |
Klíčová slova anglicky | NSOM; AFM |
Štítky | AFM, NSOM |
Změnil | Změnil: Mgr. Petr Klapetek, Ph.D., učo 11111. Změněno: 30. 9. 2003 09:15. |
Anotace |
---|
V příspěvku je diskutována problematika defektů snímků optické mikroskopie v blízkém poli vzniklých vlivem topografie povrchů. |
Anotace anglicky |
---|
In this article artifacts in near-field scanning optical microscopy are shown and their origin due to topography irregularities is demonstrated. |
Návaznosti | |
---|---|
GA101/01/1104, projekt VaV | Název: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie |
Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie | |
GA202/01/1110, projekt VaV | Název: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou |
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou |
VytisknoutZobrazeno: 2. 10. 2024 05:59