ŠILER, Martin, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 124-127. ISSN 0009-0700.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků
Název anglicky Magnetic Force Microscopy: Application at study of hard disks
Autoři ŠILER, Martin, Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK.
Vydání Československý časopis pro fyziku, Praha, Fyzikální ústav AV ČR, 2003, 0009-0700.
Další údaje
Originální jazyk čeština
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky Mikroskopie magnetické síly; Magnetic Force microscopy; MFM; AFM
Štítky AFM, Magnetic Force microscopy, MFM, Mikroskopie magnetické síly
Změnil Změnil: Mgr. Martin Šiler, Ph.D., učo 14410. Změněno: 6. 11. 2003 15:10.
Anotace
V tomto článku
VytisknoutZobrazeno: 3. 8. 2024 14:15