2004
Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples
HUMLÍČEK, Josef a Christian BERNHARDZákladní údaje
Originální název
Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples
Název česky
Difrakční efekty v infračervené elipsometrii vodivých vzorků
Autoři
HUMLÍČEK, Josef (203 Česká republika, garant) a Christian BERNHARD (276 Německo)
Vydání
Thin Solid Films, Oxford, Elsevier, 2004, 0040-6090
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.647
Kód RIV
RIV/00216224:14310/04:00021209
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000221690000030
Klíčová slova anglicky
Infrared ellipsometry; Diffraction; Metals
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 9. 2. 2007 14:21, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
V originále
We investigate theoretically polarization effects occurring in infrared spectra of finite-size conducting samples. In ellipsometric data taken at grazing incidence, a strong influence of sample edges is observed even for sample dimensions of several hundreds of a wavelength. As usual, the ellipsometric technique is found to be very efficient in supplying both magnitudes and phases of the polarized light waves. We present a comparison of the calculations with experimental far-infrared data of copper.
Česky
We investigate theoretically polarization effects occurring in infrared spectra of finite-size conducting samples. In ellipsometric data taken at grazing incidence, a strong influence of sample edges is observed even for sample dimensions of several hundreds of a wavelength. As usual, the ellipsometric technique is found to be very efficient in supplying both magnitudes and phases of the polarized light waves. We present a comparison of the calculations with experimental far-infrared data of copper.
Návaznosti
| MSM 143100002, záměr |
|