2004
Correlation between microscopic and macroscopic properties of yttria-stabilized zirconia thin films
HARTMANOVÁ, Marie, Vladislav NAVRÁTIL, Karel NAVRÁTIL, Marian JERGEL, Kateřina GMUCOVA et. al.Základní údaje
Originální název
Correlation between microscopic and macroscopic properties of yttria-stabilized zirconia thin films
Název česky
Vztah mezi mikroskopickými a makroskopickými vlastnostmi yttriem stabilizovaných tenkých zirkoniových vrstev
Autoři
HARTMANOVÁ, Marie (703 Slovensko), Vladislav NAVRÁTIL (203 Česká republika, garant), Karel NAVRÁTIL (203 Česká republika), Marian JERGEL (484 Mexiko), Kateřina GMUCOVA (703 Slovensko), Fjod Alexandrovič GANDARILLA (484 Mexiko), Jan ZEMEK (203 Česká republika), Sergej CHROMIK (703 Slovensko) a František KUNDRACIK (703 Slovensko)
Vydání
I. Teheran, Iran, Physics and Technology of Thin Films IWTF 2003, od s. 158-168, 11 s. 2004
Nakladatel
World Scientific
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Írán
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka
Pedagogická fakulta
UT WoS
000223358300010
Klíčová slova anglicky
yttria stabilized zirconia; thin films; microhardness; structure; electrical conductivity.
Změněno: 24. 10. 2008 14:11, prof. RNDr. Vladislav Navrátil, CSc.
V originále
The physical (optical, mechanical and electrical) parameters of yttria stabilized thin zirconia films are presented. The dependence of these parameters on technology is also studied.
Česky
V příspěvku jsou uvedeny nejvýznamnější optické, mechanické a elektrické vlastnosti yttriem stabilizovaných zirkoniových tenkých vrstev. Tyto vlastnosti jsou studovány v závislosti na technologii přípravy vrstev.