2004
Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Czochralski Silicon
ŠTOUDEK, Richard a Josef HUMLÍČEKZákladní údaje
Originální název
Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Czochralski Silicon
Název česky
Infračervená absorpční spektroskopie kyslíkových precipitátů v Czochralského křemíku
Autoři
ŠTOUDEK, Richard (203 Česká republika, garant) a Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika)
Vydání
Praha, Česká republika, WDS'04 Proceedings of Contributed Papers, od s. 475-479, 4 s. 2004
Nakladatel
MATFYZPRESS
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/04:00010936
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
80-86732-32-0
Klíčová slova anglicky
Infrared; Silicon; Oxygen; Precipitates
Štítky
Změněno: 10. 2. 2005 13:43, Mgr. Richard Štoudek, Ph.D.
V originále
We have analysed infrared transmittance spectra of Czochralski silicon. Using measurements at liquid nitrogen temperature we have identified the contribution of oxygen precipitates. The continuum theory of average dielectric constant has been used to determine the shape and volume fraction of these particles.
Česky
Analyzovali jsme infračervená spektra propustnosti Czochralského křemíku. Díky měrení na teplotě kapalného dusíku jsme identifikovali příspěvek kyslíkových precipitátů. Pro určení tvaru a objemového podílu těchto částic byl použit model efektivního prostředí.
Návaznosti
MSM 143100002, záměr |
|