J 2003

Oriented organic semiconductor thin films

ANDREEV, A., R. RESEL, M.D. SMILGIES, H. HOPPE, G. MATT et. al.

Základní údaje

Originální název

Oriented organic semiconductor thin films

Název česky

Orientované organické tenké vrstvy

Autoři

ANDREEV, A., R. RESEL, M.D. SMILGIES, H. HOPPE, G. MATT, H. SITTER, N. S. SARICIFTCI, D. MEISSNER, H. PLANK a O. ZRZAVECKA

Vydání

Synthetic Metals, Elsevier, 2003, 0379-6779

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Francie

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.303

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000183479200011

Klíčová slova anglicky

Organic epitaxy; Crystalline thin films; Atomic force microscopy; X-ray diffraction

Štítky

Změněno: 14. 2. 2005 15:30, Mgr. Olga Fikarová Zrzavecká

Anotace

ORIG CZ

V originále

In this part of our investigations, we mainly use atomic force microscopy to study the growth of para-sexiphenyl (PSP) films on mica. It is shown that self-organization of PSP molecules occurs during the deposition controlled by the substrate temperature and deposition time. In addition, X-ray diffraction (XRD) measurements were performed using synchrotron radiation. They confirmed the very high crystalline quality of the grown films.

Česky

V této části našeho výzkumu jsme použili ke studiu růstu para-sexiphenylu na slídě především mikroskopii atomove síly (AFM). Ukázalo se samouspořádávání molekul PSP během depozice kontrolované teplotou substrátu a dobou depozice. Dále byla provedena měření rtg difrakce (XRD)s užitím synchrotronového zdroje. Ta potvrdila vysokou kvalitu krystalických vrstev.