BRZOBOHATÝ, Oto a David TRUNEC. The Role of Secondary Electrons in Low Pressure RF Discharge via Computer Simulation. In SAPP XV. Podbanske, Slovakia: Karol Hensel, 2005, s. 135-137, 2 s. ISBN 80-223-2018-8.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název The Role of Secondary Electrons in Low Pressure RF Discharge via Computer Simulation
Název česky Role sekundárních elektronů v nizkotlakém rf výboji pomocí počítačové simulace
Autoři BRZOBOHATÝ, Oto (203 Česká republika, garant) a David TRUNEC (203 Česká republika).
Vydání Podbanske, Slovakia, SAPP XV, od s. 135-137, 2 s. 2005.
Nakladatel Karol Hensel
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Slovensko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/05:00025502
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 80-223-2018-8
Klíčová slova anglicky secondary electrons; computer simulation
Štítky computer simulation, secondary electrons
Změnil Změnil: prof. RNDr. David Trunec, CSc., učo 1597. Změněno: 23. 6. 2009 13:56.
Anotace
In this contribution we present a study of the role of secondary electrons in low pressure RF discharge via computer simulation. We have used particle simulation Particle In Cell Monte Carlo (PIC-MC) method. We have shown that the secondary electron emission coefficient (SEC) of electrodes affects plasma density. The change of the SEC from 0.1 to 0.2 induces an increase of plasma density up to 30%. We determined that about 30 % of all electrons in plasma are secondary electrons and electrons created in ionization collisions of secondary electrons. More than half of all ions in plasma are ions, created in ionization collisions of secondary electrons. We have calculated many further characteristics of secondary particles.
Anotace česky
V příspěvku uvádíme studium role sekundárních elektronů v nízkotlakém RF výboji pomocí počitačové simulace. Pro simulaci jsme užili částicovou simulaci (Particle In Cell-Monte Carlo). Ukazali jsme, že koeficient sekundární emise (SEC) elektrod výrazně ovlivnuje plazma. Změna SEC o 0,1 vyvolá nárůst hustoty plazmatu až o 30%. Ukázali jsem, že okolo 30% elektronů jsou sekundárních elektronů a elektronů vytvořených ionizačníma srážkama sekundárních elektronů. Více než polovina všech iontů v systému je tvořena ionty vzniklými z ionizačních srážek sekundárních elektronů.
Návaznosti
MSM0021622411, záměrNázev: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 8. 6. 2024 13:58