2005
Study of carbon films on silicon substrate
JAŠEK, Ondřej, Marek ELIÁŠ a Zdeněk FRGALAZákladní údaje
Originální název
Study of carbon films on silicon substrate
Název česky
Studium uhlíkových vrstem na křemíkových vrstvách
Autoři
JAŠEK, Ondřej (203 Česká republika, garant), Marek ELIÁŠ (203 Česká republika) a Zdeněk FRGALA (203 Česká republika)
Vydání
Material Science Forum, Switzerland, Trans Tech Publications, 2005, 0255-5476
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Švýcarsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 0.399
Kód RIV
RIV/00216224:14310/05:00013692
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000228329200039
Klíčová slova anglicky
high resolution scanning microscopy; carbon nanostructures; diamond; nanotubes
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 11. 12. 2006 13:32, Mgr. Ondřej Jašek, Ph.D.
V originále
Carbon based films on silicon substrates have been studied by high resolution FE SEM equipped by an EDS analyzer. The first type are carbon nanotube (CNT) films prepared on Si/SiO2 substrates with Ni or Fe layers by radiofrequency plasma chemical vapor deposition. Dependence of nanotube films properties on Ni and Fe thickness and deposition conditions have been studied. The second type of films discussed are microcrystalline and nanocrystalline diamond films grown on pre-treated Si substrates by microwave plasma chemical vapor deposition (MPCVD). The pre-treatment was varied and its effect on diamond films was studied.
Česky
Tenké uhlíkové vrstvy na křemíkových substrátech byly studovány pomocí FE SEM s EDS analyzátorem. Prvním typem jsou vrsty uhlíkových nanotrubek (CNT) připravené na Si/SiO2 substrátech s vrstvou Fe nebo Ni metodou RF-CVD. Byly zkoumány vlastnosti vrstev na tloušťce Fe a Ni vrstev a depozičních podmínkách. Dalším druhem vrstev jsou vrstvy tvořené mikro- a nanokrystalickými diamanty. Tyto vrstvy byly přepraveny na předem ošetřených křemíkových substrátech metodou MPCVD. Hlavním bodem studia vrstev je vliv ošetření vrstem a jeho parametrů na výslednou diamantovou vrstvu.
Návaznosti
MSM 143100003, záměr |
|