Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces

KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.

Základní údaje

Originální název

Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces

Název česky

Vliv

Autoři

KLAPETEK, Petr (203 Česká republika), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant) a Jindřich BÍLEK (203 Česká republika)

Vydání

Ultramicroscopy, Amsterdam, Elsevier, 2004, 0304-3991

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 2.215

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000225516200007

Klíčová slova anglicky

Roughness; AFM

Štítky

AFM, Roughness

---

Anotace

V originále

In this paper ...

Česky

V tomto článku ...

---

Návaznosti

GA101/01/1104, projekt VaV	Název: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaV	Název: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou