2005
Electrical Properties of Plasma Deposited Thin Films
FRANCLOVÁ, Jana, Zuzana KUČEROVÁ a Vilma BURŠÍKOVÁZákladní údaje
Originální název
Electrical Properties of Plasma Deposited Thin Films
Název česky
Elektrické vlastnosti tenkých vrstev vytvořených PECVD
Autoři
FRANCLOVÁ, Jana (203 Česká republika, garant), Zuzana KUČEROVÁ (203 Česká republika) a Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika)
Vydání
1. vyd. Praha, 4 s. WDS 05, Proceedings of Contributed Papers, Part II, 2005
Nakladatel
MATFYZPRESS
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Odborná kniha
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/05:00014316
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
80-86732-59-2
Klíčová slova anglicky
PECVD; Thin Films; Electrical Properties
Štítky
Změněno: 21. 5. 2009 09:24, Mgr. Jana Meixnerová, Ph.D.
V originále
It is well known that MIM structures exhibit various high-field processes, which may be either electrode-limited (e.g. tunneling, Schottky-barrier emission) or bulk-limited (e.g. space-charge-limited conduction, Poole-Frenkel conduction). Thin films prepared using PECVD exhibited Pool-Frenkel conductivity (Schottky conductivity) at lower voltages and Fowler-Nordheim tunneling at higher voltages.
Česky
MIM struktury vykazují různé vodivostní mechanismy,které lze rozdělit do dvou základních skupin "electrode-limited" a "bulk-limited" mechanismy. Tenké vrstvy vytvořené PECVD vykazují Poole-Frenkelovu vodivost při nižších napětích a Fowler-Nordheimovu při vyšších napětích.
Návaznosti
MSM0021622411, záměr |
|