Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

FRANTA, Daniel, Beatrice NEGULESCU, Luc THOMAS, Pierre Richard DAHOO, Marcel GUYOT, Ivan OHLÍDAL, Jan MISTRÍK a Tomuo YAMAGUCHI. Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, roč. 244, 1-4, s. 426-430. ISSN 0169-4332.

Základní údaje

• Originální název: Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique
• Název česky: Optické vlastnosti tekých NiO vrstev připravených pomocí pulzní laserové depoziční metody
• Autoři: FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Beatrice NEGULESCU (642 Rumunsko), Luc THOMAS (250 Francie), Pierre Richard DAHOO (250 Francie), Marcel GUYOT (250 Francie), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Jan MISTRÍK (203 Česká republika) a Tomuo YAMAGUCHI (392 Japonsko).
• Vydání: Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332.

Další údaje

• Originální jazyk: angličtina
• Typ výsledku: Článek v odborném periodiku
• Obor: 10302 Condensed matter physics
• Stát vydavatele: Spojené státy
• Utajení: není předmětem státního či obchodního tajemství
• WWW: URL
• Impakt faktor: Impact factor: 1.263
• Kód RIV: RIV/00216224:14310/05:00014765
• Organizační jednotka: Přírodovědecká fakulta
• UT WoS: 000228600200098
• Klíčová slova anglicky: NiO films; Optical constants; Ellipsometry; Reflectometry
• Štítky: ellipsometry, NiO films, optical constants, Reflectometry

Anotace

In this paper the optical characterization of the NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique onto the quartz substrate were performed using multi-sample modification of the combined optical method based on measuring and interpreting the experimental data obtained by variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotometry in reflected and transmitted light. A new dispersion model of the optical constants of the NiO films was also used. This dispersion model was based on parameterizing of the joint density of states together with the Gaussian broadening. The defects consiting in boundary roughness and refractive index profile were taken into account in optical characterization of the NiO films too. The spectral dependences of the optical constants together with the parameters characterizing the defects of these films were determined.

Anotace česky

V tomto článku optická charakterizace vrstev NiO připravených pulsní lasrovou deposicí na podložky z taveného křemene byla provedena pomocí vícevzorkové modifikace kombinované optické metody založené na měření a interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektrofotometrií v odraženém a propuštěném světle. Nový dispersní model optických konstant NiO vrstev byl použit. Tento dispersní model je založen na parametrizaci sdružené hustoty elektronových stavů spolu s Gaussovským rozšířením. Defekty spočívající v drsnosti rozhraní a profilu indexu lomu byly rovněž brány v úvahu při optické charakterizaci NiO vrstev. Byly určeny spektrální závislosti optických konstant spolu s parametry charakterizujícími defekty těchto vrstev byly.

Návaznosti

• MSM 143100003, záměr: Název: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek

Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek